| 使用具有耗尽剂受激发射的荧光显微镜对样品成像的方法 |
| DE102017131249 2017-12-22 发明申请 |
| 2019-6-27 |
| 本发明涉及一种使用具有受激发射耗尽的荧光显微镜(10)对样品(18)成像的方法， 包括成像过程， 其中荧光显微镜(10)由显微镜控制单元(42)以产生照明焦点的方式控制， 其中聚焦的激发光分布与用于受激发射耗尽的聚焦的去激发光分布叠加， 结果，在仅在有效激励焦点内的照明焦点的照明期间激励样品(18)， 其程度相对于激发光分布的程度减小， 为了发射成像荧光， 并且其中， 在样品(18)的目标区域内， 利用具有第一空间分辨率的照明焦点连续扫描多个样本段，所述第一空间分辨率与有效激励焦点的减小程度相匹配，并且在相应的多个图像段中成像，从所述多个图像段生成光栅图像(58)。 所述荧光显微镜(10)进一步由所述显微镜控制单元(42)控制，使得在所述成像处理之前，以低于所述第一空间分辨率且高于所述第一空间分辨率的第二空间分辨率生成所述目标区域的概观图像(48)。 比适合于激励光分布范围的第三空间分辨率更高，并且分析概览图像(48)以在没有相关图像信息的情况下识别图像区域。 在成像过程和扫描那些归因于概览图像(48)中识别的图像区域而没有相关图像形成的样本段期间，至少降低去激励光分布的辐射功率。 |
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