| 结构化平面照明显微镜 |
| US16044449 2018-7-24 发明申请 |
| 2019-6-27 |
| 一种设备包括 : 光源，被配置为产生具有波长的相干光束； 光检测器和光束形成光学器件，其被配置为接收所产生的光束并产生沿第一方向引导到样品中的多个基本平行的贝塞尔状光束。 所述贝塞尔状光束中的每一个具有相对于其它贝塞尔状光束的固定相位。 成像光学器件被配置为接收来自样品内由贝塞尔状光束照射的位置的光，并将所接收的光成像到检测器上。 所述成像光学器件包括检测物镜，所述检测物镜具有在与所述第一方向不平行的第二方向上取向的轴，其中所述检测器被配置为检测由所述成像光学器件接收的光。 处理器，被配置为基于检测到的光生成样本的图像。 |
微信公众号