一种中阶梯光栅光谱仪的自动调试系统及方法
 
CN201910542604.1  2019-6-21  发明申请

2019-9-20
 
  本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪的自动调试系统及方法,该系统包括自动调试平台,自动调试平台上设置有上位机、控制模块、存储模块、谱图分析模块、调试模型、电机控制器和姿态调整电机组;探测器采集模块将采集的谱图传递给谱图分析模块;谱图分析模块通过特征光斑的相对位置信息来解析谱图,判断待调试模块的工作姿态;调试模型根据预存的调试参数和接收到的待调试模块的工作姿态的判断结果,计算待调试模块的调整方式及调整量,发送给上位机,上位机给控制模块发送调试指令;控制模块用于对电机控制器发出指令,电机控制器通过驱动器控制姿态调整电机组,从而实现待调试模块工作状态的改变。本发明人力成本低、可靠性高。
 
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