| 用于量子点的光谱和空间表征的高光谱成像 |
| EP18202903 2018-10-26 发明申请 |
| 2020-4-29 |
| 一种用于表征衬底上的单光子发射器的整体相对于它们的位置和特征单光子发射波长的方法，包括激励所述单光子发射器以发射包括所述单光子发射器的多个单光子发射的发光信号， 用用于形成样品图像的收集透镜组件对单光子发射器组的所述发光信号成像， 所述样本图像包括所述单光子发射器集合的所述发光信号， 投影样品图像以覆盖狭缝， 狭缝沿狭缝方向取向以选择样本图像的一维切片， 所述一维切片形成狭缝图像， 将所述狭缝图像投影到依赖于波长的光束分离器上以产生所述狭缝图像的高光谱狭缝图像， 以及在二维传感器阵列上收集所述高光谱狭缝图像，用于获得沿着传感器阵列的第一方向的狭缝图像的波长信息，以及用于获得沿着传感器阵列的第二方向在狭缝图像中选择的单光子发射器的位置信息。 |
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