自参考光谱仪
 
US16368771  2019-3-28  发明申请

2019-10-3
 
  本公开的各方面涉及一种用于提供背景或参考光谱密度和样品或其它光谱密度的同时测量的自参考光谱仪。 所述自参考光谱仪包括 : 干涉仪,其光学耦合以接收输入光束并沿着第一光路引导所述输入光束以产生第一干涉光束,以及沿着第二光路引导所述输入光束以产生第二干涉光束, 其中每个干涉光束在干涉仪的输出之前产生。 该光谱仪还包括检测器,该检测器光学耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号, 以及处理器,被配置为处理所述第一干扰信号和所述第二干扰信号,并且在处理所述第一干扰信号时使用所述第二干扰信号作为参考信号。
 
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