光谱测温方法
 
RU2020138457  2020-11-23  发明授权

2021-8-6
 
  领域:温度测量。 物质:本发明涉及温度测量领域,可用于测量被加热体的局部温度。 为了测量真实物体的温度,使用具有给定精度的光谱仪,该光谱仪通过找到其对于整个工作范围的波长的光谱传递函数而被预校准。 为此,在光谱仪的工作范围内,记录绝对黑体模型的辐射光谱,该辐射光谱位于充分研究的纯金属相变之一的温度下。 光谱仪的光谱信号在记录的光谱中针对离散指定的波长进行测量。 对于相同名称的波长,使用普朗克公式计算对应于给定相变温度的理想黑体的光谱能量亮度值。 对于每个离散获取的波长,找到理想黑体的计算光谱辐射率与光谱仪的光谱信号的比值。 将计算出的比值对波长的依赖关系进行数学逼近,并将得到的数学依赖关系作为光谱仪的光谱传递函数。 这完成了光谱仪的校准。 然后,测量实体的局部温度。 为此,在光谱仪的工作光谱范围内,记录真实物体的局部感兴趣区域的辐射光谱。 设定离散波长,测量光谱仪的光谱信号。 基于光谱仪的光谱传递函数,为给定波长找到光谱传递函数的相应光谱传递系数。 求出实心体的光谱辐射率,将光谱仪的测量光谱信号乘以求出的光谱传递系数。 然后,使用普朗克公式计算理想黑体的光谱辐射率。 包括在普朗克公式中的温度值是变化的, 并且找到这样的温度值,在该温度值下,理想绝对黑体的计算光谱能量亮度乘以实心体的先前已知光谱发射率,最接近于所找到的实心体的光谱能量亮度。 然后,将该温度值作为实际物体的实际局部温度。 效果是:提高了测温过程的准确性,缩短了测温过程的持续时间。 1Cl,2DWG
 
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