| 一种基于单模光纤的芯片光谱特性测试系统 |
| CN202022767468.7 2020-11-25 实用新型 |
| 2021-7-16 |
| 本实用新型公开了一种基于单模光纤的芯片光谱特性测试系统。该测试系统包括光谱仪、单模光纤以及准直耦合组件；准直耦合组件包括套筒、陶瓷插芯以及透镜；透镜和陶瓷插芯均同轴设置于套筒内，且陶瓷插芯位于透镜出射光焦点的后面；透镜正对被测芯片的出光口；单模光纤一端与陶瓷插芯连接，另一端与所述光谱仪连接。该测试系统增加了耦合的纵向安全距离(即准直耦合组件和被测芯片之间的距离)，避免了耦合过程对芯片的损伤，同时耦合容差也进一步增大，提高了耦合速度。 |
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