| 一种基于多模光纤的芯片光谱特性测试系统 |
| CN202022758876.6 2020-11-25 实用新型 |
| 2021-7-16 |
| 本实用新型公开了一种基于多模光纤的芯片光谱特性测试系统。该系统包括光谱仪、单模光纤、准直耦合组件、多模光纤以及第一多模陶瓷插芯；第一多模陶瓷插芯正对被测芯片的的出光口放置；准直耦合组件包括套筒、第二多模陶瓷插芯、透镜以及单模陶瓷插芯；第二多模陶瓷插芯、透镜以及单模陶瓷插芯依次同轴设置于套筒内；多模光纤一端与第一多模陶瓷插芯连接，另一端与第二多模陶瓷插芯连接；单模光纤一端与单模陶瓷插芯连接，另一端与所述光谱仪连接。该测试系统提高了多模光纤到单模光纤的对接耦合效率，满足了光谱SMSR对中心波长能量的要求。 |
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