| 使用显微镜的观察方法和透射型显微镜装置 |
| WOJP18028534 2018-7-31 发明申请 |
| 2019-6-13 |
| 本发明提供一种使用显微镜的观察方法和透射型显微镜装置，其能够解决以往使用聚光的方法的问题， 并且能够方便地获得观测对象的高精度和高灵敏度的强度图像和微分相位图像。 所述观察方法包括 : 使用例如具有最小孔径光阑的Koehler照明将平行光从光源发射到观察对象的步骤； 将透过观察对象的光投射到微透镜阵列上形成图像的步骤； 检测在微光学检测器阵列上形成的衍射光场的强度分布的步骤； 从微光学检测器阵列上的多个衍射图像创建四维数据的步骤，其中微透镜阵列坐标作为二维实空间坐标，并且微光学检测器阵列上的每组检测坐标作为二维频率空间坐标； 以及将二维频率空间坐标中的区域和/或重心积分以获得观测对象的二维强度图像和/或二维微分相位图像的步骤。 |
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