一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法
 
CN201910747707.1  2019-8-14  发明申请

2019-11-15
 
  本发明属于光谱分析技术领域, 具体涉及一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法,该方法包括:确定待测元素可激发较强非共振荧光线的光源特征谱线;根据确定的光源特征谱线选用中心波长对应的窄带通滤光片, 放置在原子化器前,保证激发光源中只有窄带滤光片带通范围内波长可透过,并经原子化器生成相应的共振荧光及非共振荧光;控制数字微镜进行全谱测量,确认参加检测的非共振荧光线信息在数字微镜上对应像元的范围;按范围测量所有非共振荧光强度并求和得到待测元素的荧光强度值。能有效避免光源散射干扰,提高待测元素定量检测结果的准确性。
 
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