干涉式高光谱仪器的光谱局部插值方法
 
CN201910258388.8  2019-4-1  发明申请

2019-9-17
 
  本发明公开了一种干涉式高光谱仪器的光谱局部插值方法,包括以下步骤:S1、输入光谱序列、光谱采样间隔、待插值范围、插值倍数;S2、计算卷积算子;S3、对原始光谱的局部插入零值;S4、将步骤S1、S2中得到的结果进行部分卷积运算。本发明简单易行,计算量小、存储开销小,能够很好地满足对光谱进行快速处理的需求。
 
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