| 固体样品中痕量重金属汞的X射线荧光快速分析方法 |
| CN202110052642.6 2021-1-15 发明申请 |
| 2021-4-13 |
| 本发明涉及一种固体样品中痕量重金属汞的X射线荧光快速测定方法，适合土壤、化肥、食品等样品中的痕量重金属汞的快速检测。方法包括如下步骤：S1、热解析；称取一定质量的固体样品放置到样品热解析单元的气密腔室的样品舟内，升温至600～700℃，实现样品解析；S2、富集；通过载气和载气控制单元控制热解析腔室中的载气流经滤膜，实现滤膜对热解析出来的汞元素的富集；S3、检测；完成富集的滤膜放入样品测试单元进行测试，所述样品测试单元为X射线荧光光谱仪；根据汞的谱峰强度计算滤膜中汞的含量，结合称取的固体样品质量最终计算出样品中汞的含量。本发明不需要对固体样品进行消解等前处理，操作简单，测试快速。 |
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