| 太赫兹波束质量表征系统及方法 |
| CN201910078483.X 2019-1-28 发明申请 |
| 2019-6-7 |
| 本发明实施例提供一种太赫兹波束质量表征系统及方法，属于太赫兹技术领域。该系统包括：太赫兹光源、单点太赫兹探测器及三维运动平台；其中，三维运动平台可在xyz三个维度上移动；太赫兹光源的光源传输方向为z方向，单点太赫兹探测器放置在三维运动平台上；单点太赫兹探测器，用于测量不同z平面的不同xy坐标处的太赫兹光场强度值。由于该系统可以用于进行标准化光源的定标和校准，也可以用于太赫兹滤波器、调制器等太赫兹功能器件的性能表征，还可以用于太赫兹探测器的校准，进一步用于太赫兹光谱、太赫兹成像和太赫兹通信系统的优化，从而为太赫兹各领域研究和应用的质量评价提供了依据。 |
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