分光计及分光计的制造方法
 
KR1020217002757  2019-7-9  发明申请

2021-3-31
 
  本发明是具有法布里载流子衬底Perot(FP)的1-TS1干涉仪单元,其中第一-1载流子衬底TS1设置在Perot-Ep干涉仪单元U的下表面(Fabry)上,并且具有光学孔径NA(Fabry)。 上述Perot-FP干涉仪单元。 U是Perot-FP干涉仪单元O的底面Fabry的相对侧, 设置在两级干涉仪单元(K,2)的上表面(1)上,第(1)基板(TS1)的下表面(S)设置在第(U)基板(2K)上; 和/或2s)衬底S(1)。 光检测器装置(2)配置在(S)基板(1)上或其内部和/或其内部和/或第(k)基板上。 光检测器装置1的第一和PD电连接区域A1以及Perot-FP干涉仪单元2的AT法布里电连接区域A2与包括光检测器装置10的光谱仪装置PD相关, 它们可以在同一方向上电接触。
 
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