| 一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法 |
| CN202011416128.8 2020-12-7 发明申请 |
| 2021-3-26 |
| 本申请公开了一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，包括待标定样品；设置投射板面；样品标定；像素设置：光谱仪的各个探测器设定3?5个像素位置，作为监控像素；设定位置校正参考光谱；比较剔除。本申请有益效果：通过全谱式直度光谱仪对样品表面进行激发且经探测器对相应光强数值分析，能够剔除处表面异常的样品，实现对样品表面平整度、洁净度及裂缝进行检测剔除的功能，达到微观检测的效果，便于剔除产品中的次品，通过将多个探测器与每一个所要检测的样品一一对应，能够成组的一次性进行检测剔除，同时将多个探测器与计算机进行连接，能够将获得的光强数值分布在屏幕上，且分布方式与样品放置方式一致，有利于直观地取出不合格的样品。 |
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