| 显微镜系统、观察方法及观察程序 |
| JP2017205085 2017-10-24 发明申请 |
| 2019-5-23 |
| 要解决的问题：提供一种结构简单的自动聚焦显微镜系统。 解决方案：一种显微镜系统，包括：载物台，用于放置观察样品，所述观察样品包括透明部件和放置在所述透明部件上的被观察材料； 物镜，用于观察被观察材料； 驱动单元，其沿光轴方向驱动所述载物台或所述物镜，以改变所述载物台和所述物镜之间的相对位置； 第一光源部，其射出特定波段的自动对焦检测光； 第二光源单元，其发射用于激发所观察的材料的激发光； 拍摄部，其对所述观察试样进行拍摄； 以及控制部，其控制所述驱动部，以基于对所述观察试样进行拍摄的所述拍摄部得到的图像，调整所述观察物与所述物镜之间的沿所述光轴方向的距离。 选图：图1版权：(C)2019, JPO&INPIT |
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