发射光谱分析仪
 
JP2019128319  2019-7-10  发明申请

2021-2-12
 
  [问题]为了提高每个元素的分析精度,可以进行发射光谱分析。 [解决方案]分析装置,泵送部和光谱仪的一部分,配备有遮光部1。 泵浦部分和相对设置的放电电极之间由样品激发,样品被激发而发光。 光谱的一部分,即分光镜从样品发射的光谱光,被检测到具有特定波长的亮线光谱。 屏蔽部设置在泵送部与分光镜之间,具有开口部。 所述开口1W,光发射部分被配置为使光通过光谱仪入射。 遮挡部1,开口的位置和大小可改变1W。 图4[附图]
 
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