| 用于检测纳米毛细管通道中的光程长度变化的组件和方法 |
| EP18717824 2018-3-9 发明申请 |
| 2020-1-15 |
| 本发明涉及一种用于检测纳米毛细管通道中光程长度变化的组件和方法，特别是用于检测纳米体积元件。 使用荧光标记的物质作为荧光相关光谱的基础的方法将扩展到未标记物质的检查，改进的平行性将成为可能，并且将提供亚微米范围和亚阿贝极限范围内的精确，局部检测。 本发明所要解决的问题是通过一种微流体技术中的多层芯片来解决的，该芯片包括三个平面层(1， 17和18)， 其被实施为光学透明的检测介质(1)， 光学透明的嵌入介质(17)， 含有至少一种等离子体激元纳米结构(2)， 以及具有毛细通道(4)的载体介质(18)， 它被引入到与嵌入介质(17)相邻的表面中，并具有流体流入口(5)和流出口(6)， 其中毛细管通道(4)在其与等离子体纳米结构(2)相对的一侧上构造为反射表面(3)， 其中在考虑光学折射率的情况下，从作为光源的等离子体纳米结构(2)到毛细管通道(4)中的反射表面(3)的光程长度是最大相长干涉波长的0.5倍或N×0.5倍， 其中n是大于或等于1的整数。 |
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