| 一种用于超分辨荧光显微镜和荧光寿命测量的装置及方法 |
| WOEP18079865 2018-10-31 发明申请 |
| 2019-5-9 |
| 一种用于超分辨荧光显微镜的方法，包括以下步骤 : 激发包含在待观察样品(E)中的荧光发射体的随机激活，并用激发光束(FL2)照射所述样品，所述激发光束(FL2)的波长适于从激活的发射体诱导荧光发射； 以及-通过包括矩阵图像传感器(CIM)的成像系统(SI)获得荧光图像(IM)序列； 以允许每个光子与所述矩阵图像传感器的一组像素(EPX)相关联的空间分辨率测量荧光光子相对于所述激发光束的脉冲(IL2)的到达延迟。 一种用于实现这种方法的设备和计算机程序产品。 |
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