用于在带电粒子显微镜中安装样品的低温电池
 
US16166242  2018-10-22  发明申请

2019-5-2
 
  一种在带电粒子显微镜中检查低温样品的方法, 包括 : 将所述样品置于样品架上的低温池中;将带电粒子束从源沿着轴线引导通过照明系统的抽真空的束导管,以便用其照射所述样品的至少一部分;使用检测器来检测从所述光源发出的辐射。 响应于所述辐照,所述样品还包括 : 配置所述电池以包括细长管,所述细长管在所述束导管内延伸到所述照明器系统中并包围所述轴;至少在所述辐照期间将所述管保持在低温。
 
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