用于使用光开关的片上光谱学的设备,系统和方法
 
US16506142  2019-7-9  发明申请

2019-10-31
 
  一种光谱仪,包括干涉仪,该干涉仪具有第一干涉臂和第二干涉臂,以从入射光产生干涉图案。 至少一个干涉臂包括由两个(或多个)不同长度的波导连接的一系列级联光开关。 每个光开关将入射光引导到一个波导或另一个波导中,从而改变第一干涉臂和第二干涉臂之间的光路长度差。 该方法可以通过将并行干涉仪放在一起而扩展到多模入射光,每个干涉仪执行多模入射光中的一个单模的光谱学。 为了保持光谱仪的紧凑性,相邻干涉仪可以共用一个干涉臂。
 
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