凹凸不平的单晶宽带隙材料扫描-隧穿-显微镜/光刻尖端
 
US16095011  2017-4-24  发明申请

2019-4-25
 
  本发明提供一种用于扫描隧道显微镜和/或扫描,隧道光刻的复合金属宽带隙半导体尖端,形成方法和使用该复合金属宽带隙半导体尖端的方法。
 
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