产业集群信息网

产业专利数据

用于扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)的样品架。

MX2015016988 2015-12-10 发明授权

2019-4-24

在相关显微镜的范围内，保持两个显微镜的细节的位置参考的能力对于在显微镜的两个领域中获得信息和图像是必不可少的，为了获得有价值的组合信息，所述信息和图像可以被相关联。