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原位光束轮廓测量
US16156434 2018-10-10 发明申请
2020-4-16
公开了一种用于确定离子束的各种参数的系统。 可以修改测试工件以并入检测图案。 检测图案可以被配置为测量离子束的高度,离子束的均匀性或离子束的圆心角。 在某些实施例中,可以使用光学发射光谱仪(OES)系统来测量撞击检测图案的电流量。 在其它实施例中,用于偏置工件的电源可用于测量撞击检测图案的电流量。 可替换地,检测图案可被并入工件保持器中。
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