| X射线荧光光谱仪 |
| WOJP19017172 2019-4-23 发明申请 |
| 2020-4-2 |
| X射线荧光光谱仪(10)具备分光衍射器(25a，25b)，检测器(30a，30b)，测定室(40)，排气装置(45)和控制装置(50)。 测量室(40)中容纳有 : 被分析的试样(20)； 分光衍射器(25a，25b)； 以及检测器(30a，30b)。 排气装置(45)从测量室(40)内的大气中排出空气。 控制装置(50)基于检测器(30a，30b)的检测值来测量X射线荧光的强度。 此外，控制装置(50)基于X射线荧光的能量和测量室(40)内的压力对测量的X射线荧光强度进行校正。 |
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