| 偏振相位显微镜 |
| WOUS18050063 2018-9-7 发明申请 |
| 2019-3-14 |
| 本发明公开了用于测量偏振特性和相位信息的装置和方法，例如可用于显微镜应用中。 根据所公开的技术的一个实施例，一种设备包括光源，干涉仪，其被配置为接收由光源产生的光并将所接收的光分成两个分束输出。 分光光束输出包括组合的干涉光束。 两个光传感器，每个光传感器包括偏振敏感焦平面阵列，接收来自干涉仪的分光光束输出中的相应一个。 因此，所公开技术的一些例子允许同时或同时测量光的性质，包括强度，波长，偏振和相位。 偏振敏感焦平面阵列包括多个宏像素，每个宏像素包括具有不同偏振滤波特性的超像素，每个超像素包括一个或多个像素，所述一个或多个像素包括用于不同颜色的滤波器。 |
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