使用X射线荧光和光谱学的地质分析系统和方法
 
CA3100580  2019-5-17  发明申请

2019-11-21
 
  提供了一种使用x射线荧光和光谱学的地质分析系统、装置和方法。 地质分析系统包括保持地质样品材料的样品盘,以及包括X射线荧光(XRF)单元和光谱仪的传感器。 样品盘包括形成在上表面中的腔室、端口和通道,每个通道提供腔室内部和端口内部之间的连通。 所述端口被构造成可附接至小瓶。 系统相对于用于感测样品盘中的地质样品材料的一个或多个特性的传感器定位样品盘。
 
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