| 一种双折射晶体快拍穆勒矩阵成像测偏系统 |
| CN201810431492.8 2018-5-8 发明申请 |
| 2019-11-15 |
| 本发明涉及光学图像信息采集技术领域，具体为一种双折射晶体快拍穆勒矩阵成像测偏系统，包括光源、第一偏振调制模块、第二偏振调制模块、图像获取装置、第一准直透镜、第一成像镜、第二准直透镜、第二成像镜，所述第一偏振调制模块包括两块改进型萨瓦偏光镜Ⅰ、起偏器和第一半坡片，所述第二偏振调制模块包括两块改进型萨瓦偏光镜Ⅱ、检偏器和第一半坡片，所述每一块改进型萨瓦偏光镜包括两块萨瓦板、第二或第三半坡片。本发明技术方案与目前的偏振光栅快拍穆勒矩阵成像测偏技术相比，具有可获得更高透射率、更高消光比，更宽的光谱选择以及可一次性获取目标物体任一时刻的全部16个穆勒矩阵图像等优点。 |
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