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涂层测定

CN201880019112.8 2018-3-21 发明申请

2019-11-8

公开了一种在涂层测试系统(8)中执行的、用于自动测定涂层材料的聚合的方法，所述方法包括：将光谱仪探针(10)定位在物体(线10)附近，所述物体包括聚合物涂层；使用所述探针获取所述聚合物涂层的光谱；以及对所获取的光谱执行化学计量分析，以便测量所述聚合物涂层的所述聚合。