| 一种样品分析系统，样品分析的显示方法 |
| JP2017221933 2017-11-17 发明申请 |
| 2019-6-20 |
| 在三维荧光光谱仪[TO]中获取的荧光峰用于识别未知样品分析系统可以估计为质量信息，显示器和样品分析方法。 [溶液]样品分析系统100，1荧光分光光度计，液相色谱装置60，70和质量分析器，控制装置110, 120具有样品引入单元。 在荧光分光光度计1中， 激发波长，荧光波长，三维荧光光谱的荧光强度被采集，在液相色谱装置60中，洗脱时间，吸收波长，三维吸收光谱被采集，质量分析器70，洗脱时间，质量信息，三维质谱的离子强度被采集。 以质量-电荷比确定的相同轴对准标度的三维质谱(m/z)中的每一个都是质量分析器70。 图6[附图] |
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