| 一种测量L-I-V的探针台 |
| KR1020180018122 2018-2-14 发明申请 |
| 2019-8-22 |
| 一种用于测量L-I-V的探针台，所述用于测量L-I-V的探针台包括用于测量L-I-V的探针台，用于测量L-I-V的探针台和用于测量L-I-V的探针台。 一种L-I-V测量探针台，包括安装在装有电极的LED芯片样品上的探针尖端， 探针尖端， 一调焦模块， 光谱仪， 以及光谱仪， 将从LED芯片样品发出的光会聚， 并且通过使LED芯片样品的电极与放置在圆形透明吸盘上的LED芯片样品的电极接触并使LED芯片样品的电极与探针接触，获得从LED芯片样品收集的LED芯片样品的光学特性 安装在圆形透明吸盘上的尖端，由此获得放置在LED芯片样品上的LED芯片样品的光学特性，并使LED芯片样品的电极相对于放置在圆形透明吸盘上的LED芯片样品的电极接触。 |
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