| 测量样品荧光特性的分光光度计及方法 |
| CN201711486648.4 2017-12-29 发明申请 |
| 2019-7-9 |
| 本发明涉及一种测量样品荧光特性的分光光度计及方法，其特征是，包括：光源，用于发出所需之光谱；第一样品室，所述第一样品室用于放置待测样品，以所述光源发出的未经选择的光全部入射到第一样品室；单色器，单色器将光源的复合光或透过第一样品室的复合光分解为单色光并能够随意改变波长；第二样品室，用于放置待测样品，以所述单色器选择的全部波长的光入射至第二样品室；检测器，用于将透过待测样品的光信号转化为电信号，并将电信号放大；以及，显示与存储系统，用于将检测器放大的电信号通过仪表显示出来，并存储光信号。本发明解决荧光对透射光谱测量产生干扰的问题，同时得到待测样品的透射光谱和荧光光谱，并提高定量精确度。 |
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