| 光谱测量 |
| JP2017228720 2017-11-29 发明申请 |
| 2019-6-24 |
| [问题]以良好的光谱仪器精度测量从多个发光元件发出的光的角度。 第二基板7[a][1]， 发光元件的171713安装在第一基板上从第二基板到第二发光部3b3a171的第一基板的第一高度到第二发光部4的第二高度。 第1发光元件，第2发光元件，第3发光元件，第3发光元件，第2发光元件，第3发光元件，第3发光元件，第4发光元件，第2发光元件的高度不同， 光接收单元25和27， 提供了一种， 第2发光部具有第2发光部，第2发光部具有第2发光部，第2发光部具有第2发光部，第2发光部具有第2发光部，第2发光部具有第2发光部，第2发光部具有第2发光部。 图5[附图] |
微信公众号