| 一种火炬系统的成分分析系统及火炬系统 |
| JP2018246559 2018-12-28 发明申请 |
| 2019-5-30 |
| [问题]提供使用LAA-ICP-型MSLAA-ICP-型OES对成像或分析的亚微米颗粒的高分辨率，或对激光烧蚀的高灵敏度。 [解决方案]内部空间被配置为容纳靶104, 106和样品室102，移除样品上的靶部分108的一部分，样品分析系统110的组成被配置为。 室138是靠近样品捕获单元的目标， 一种靶材料被配置成接收捕获腔， 与载气流的外部区域相邻的捕获单元的位置被馈送到流入端口和捕获腔，该腔被配置成接收从载气流的其他区域和出口端口捕获的气体。 所述样品室是，将载气引入到包括所述喷嘴的内部空间120中。 图1[附图] |
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