| X射线透射光谱仪系统 |
| US15663831 2017-7-31 发明申请 |
| 2017-11-23 |
| 一种与紧凑型X射线源一起使用的X射线透射光谱仪系统，用于测量具有高空间分辨率和高光谱分辨率的X射线吸收。 该光谱仪系统包括紧凑的高亮度X射线源、具有低通光谱滤光器特性的光学系统以聚焦穿过待检查对象的X射线，以及光谱仪包括晶体分析器(以及在一些实施例中的镶嵌晶体)以分散透射束，并且在一些实例中是阵列检测器。 高亮度/高通量X射线源可以具有在0度和15度之间的起飞角，并且耦合到光学系统，该光学系统收集高通量X射线并将其聚焦到微米级斑点，从而导致高通量密度。 X射线光学系统还可以充当“低通”滤波器，允许一次观察预定带宽的X射线，同时排除较高谐波。 |
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