| 一种显微偏振光谱分析系统及方法 |
| CN201811213379.9 2018-10-18 发明申请 |
| 2019-3-1 |
| 本发明提出了一种显微偏振光谱分析系统，包括白光光源、起偏系统、偏振分析系统和显微成像系统，在所述起偏系统与偏振分析系统之间设置有样品；所述起偏系统包括一个可绕中心轴旋转的光学起偏器；所述偏振分析系统包括偏振分束器以及第一光谱仪和第二光谱仪，所述偏振分束器分别通过光纤与第一光谱仪和第二光谱仪连接；所述显微成像系统包括放置于样品前的物镜和放置于相机前的成像透镜。本发明的系统适用于从紫外到红外的整个光谱区域，构造简单，能够测量整个光谱的磁光特性。 |
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