校准扫描电子显微镜的物镜
 
WOUS18040166  2018-6-29  发明申请

2019-1-3
 
  一种扫描电子显微镜的物镜对准检查工具少,能获得使用所公开的图像采集技术和系统。两个不同的X-Y电压对可基于确定的扫描电子显微镜图像。第第二图像基于第一X,Y的电压可用于确定(第二)X,Y,电压对。所述X-Y Q4始终导通电压对,可以应用在扫描电镜或其他光学部件显微镜。
 
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