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带操作员协助的光谱仪，用于测量优化

US15986918 2018-5-23 发明申请

2018-11-29

本公开涉及辅助机构和方法，其帮助光谱仪的操作者进行样品的光谱测量，所述测量具有期望的质量。该方法能够快速简单地进行高质量的光谱测量，而无需事先了解样品的光谱或光谱测量的细节。改进了数据质量，减少了收集数据所需的时间。虽然详细公开了样品光学聚焦的具体示例，但是可以优化许多其它参数。