| 近场扫描探针显微镜、扫描探针显微镜用探针及样品观察方法 |
| US15928790 2018-3-22 发明申请 |
| 2018-12-27 |
| 一种近场扫描探针，包括 : 相对扫描测试样品的测量探针； 激发光照射系统； 近场光生成系统，响应于来自所述激励光照射系统的激励光的照射，在包括所述测量探针的区域中生成近场光； 以及散射光检测系统，该散射光检测系统检测在测量探针和样品之间产生的来自样品的近场光的瑞利散射和拉曼散射光，并且近场扫描探针的特征在于，近场光产生系统包括悬臂，该悬臂具有涂覆有贵金属的芯片，并且芯片的尖端设置有细线组，该细线组包括多个碳纳米线，该碳纳米线的端部设置有贵金属。 |
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