| 动态标定方法用于激光诱导击穿光谱中阶梯光栅光谱仪 |
| US15771338 2017-4-24 发明申请 |
| 2019-1-3 |
| 本发明属于元素分析技术领域，更具体地，一种动态校准的激光诱导击穿光谱中阶梯光栅光谱仪的方法，包括以下步骤 : S1 : 利用阶梯光栅光谱仪采集标准光源；S2 : 结合校准函数，计算像素位置坐标(10-6/in/in/(x)}，?)相对应的下层光谱波长；S3 : 所述像素位置坐标进行动态搜索和过滤(10-6/in/in/(x)}，?)，以获得所有像素的位置坐标集合D，调整该组中的所有原始强度值D，得到亮度值f(Ix，y)，S4 : 计算通过动态标定后的谱线强度值相加调整后的亮度值f(Ix，y)，从而完成阶梯光栅光谱仪的动态校准的结果。在本发明的方法可以克服上述不足，即，现有中阶梯光栅光谱仪只用之前标定好的测量，无需解决在使用过程中光谱漂移，提高波长的绝对强度的定量分析，降低检出限，以及提高精度的定量分析待分析元素。 |
微信公众号