| 高分辨率扫描显微镜 |
| JP2016533862 2014-7-18 发明申请 |
| 2016-10-13 |
| 显微镜和扫描显微镜的样品高分辨率的方法，其中样品被照明；至少一个点的点或线的点，对样品扫描方式中被导向，成像为静止图像；所述点衍射限制的方式成像到静止图像的放大倍数，在于仍处于平面和静止图像的检测；所述静止图像的空间分辨率的不同扫描位置检测，其中，考虑的放大倍数，至少两倍高的半峰全宽为衍射限制的静止图像，使检测到的静止图像的衍射图案；所述静止图像的衍射图样被用于评估每一个扫描位置，与所述样品的图像产生具有增加分辨率的超衍射极限，所述检测器提供了一种具有像素阵列和大于所述静止图像；从平面和静止图像的辐射检测中的非成像方式在所述重新分配所述探测器阵列的像素；其中提供了至少两条相邻的再分布元件暴露在平行于检测光，并且其中所述检测不同的光至少部分地相对于其光谱组合物，从所述至少两条相邻的再分布和辐射元件到达检测器的像素阵列。 |
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