| 显微镜和显微镜观察方法 |
| US15909203 2018-3-1 发明申请 |
| 2018-7-12 |
| 提供了一种显微镜，包括 : 扫描器，用于扫描激发光； 物镜光学系统，所述物镜光学系统将所述激发光聚焦到样品上并收集由所述样品产生的荧光； 遮光构件，用于透射所收集的荧光的一部分； 检测荧光的检测器； 设置单元，其允许检测器在两种类型的位置关系中在不同的时间检测已经穿过遮光构件的荧光的类型，其中遮光构件中的开口的位置与样品中的物镜光学系统的焦点之间的位置关系被设置为光学共轭位置关系，其中聚焦荧光穿过遮光构件，并且设置为光学非共轭位置关系；以及设置单元，其允许检测器在两种类型的位置关系中在不同的时间检测已经穿过遮光构件的荧光的类型，其中遮光构件中的开口的位置与样品中的物镜光学系统的焦点之间的位置关系被设置为光学共轭位置关系； 以及算术运算单元，用于计算由所述检测器在不同时间采集的荧光信号之间的差。 |
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