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利用扫描电子显微镜产生截面深度成分
US15880126 2018-1-25 发明申请
2018-5-31
一种使用扫描电子显微镜(SEM)产生横截面轮廓的方法,包括用电子束扫描样品,以收集能量色散X射线光谱(EDS)光谱的能级,以确定感兴趣区域上的元素组成。 生成网格以定位将获取深度剖面的位置。 在网格位置收集能级的EDS谱。 当光束能量逐步通过时,通过区分深度之间的化学成分差异来确定样品的多层。 通过编译网格上的层数和元素组成,为感兴趣的区域生成深度剖面。
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