| 阵列探测器光谱仪光谱的采集、暗校正和报告方法 |
| US16043652 2018-7-24 发明申请 |
| 2018-11-15 |
| 描述了用于分光计暗校正的方法和系统，其实现了更稳定的基线，特别是朝向强度校正放大暗减法的任何非零结果的边缘，并且由于相机窗框的温度变化引起的暗电流的变化通常更加显著。 由此产生的基线的诱导曲率使得在这些区域中难以定量。 本公开的使用可以提供用于识别系统故障状态的度量，诸如相机真空密封件的丢失、温度稳定中的漂移和光泄漏。 在本公开的系统方面中，处理器从分光计中的光检测器接收信号并执行软件程序以计算光谱响应、求和或平均结果，以及执行执行所公开的方法所必需的其它操作。 在大多数优选实施例中，从样品接收的光信号用于拉曼分析。 |
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