| 一种应用于光谱仪器的二级和高级衍射光谱的消除方法 |
| CN201710277584.0 2017-4-25 发明申请 |
| 2017-7-21 |
| 本发明公开了一种应用于光谱仪器的二级和高级衍射光谱的消除方法，包括如下步骤：1)根据探测器尺寸和光谱仪器的光谱范围设计滤光片尺寸，并对滤光片进行分区镀膜。2)将滤光片贴在探测器表面，并测出不同积分时间下的钨灯光源光谱，对光谱凹陷处进行补偿，与原光谱进行对比，获得修正数据。3)将修正数据烧入光谱仪器下位机EEPROM。通过滤光片和下位机修正获得了一种成本极低的二级和高级衍射光谱消除方法，可以广泛应用于光栅色散型光谱仪器中。 |
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