| 基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统 |
| CN201711497527.X 2017-12-27 发明申请 |
| 2018-5-15 |
| 本发明公开了基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统，包括泵浦源、波分复用器、掺杂光纤、耦合器、光谱仪和粗锥光纤；所述波分复用器、掺杂光纤、耦合器和粗锥光纤依次分别通过光纤连接成串通结构；所述泵浦源通过光纤与波分复用器熔接；所述光谱仪通过光纤与耦合器熔接；所述光纤为9/125μm单模光纤；本发明涉及光纤传感技术领域；该基于粗锥光纤干涉结构光纤激光器的温度测试系统，通过PC端、ASE光源、光纤环形器、光谱分析仪、连接器和控制器的配合使用，实现高稳定性的可调谐激光输出，使得光纤激光器的温度测试更加简单化，提高了测试效率的同时也提高了测试的准确性，实用性强，易于推广使用。 |
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