| 一种测量物体高度的斜率谱系统通过使用波分 |
| KR1020170099745 2017-8-7 发明授权 |
| 2017-11-7 |
| 本发明涉及使用波长的光谱倾斜角度的测量系统，涉及搜索高度和形状，每个棱镜色散棱镜)来调制(或白色光束中的光波长测量或分配系统的投影机光，测量所投影的或分散的当前高度位置和形状测量波长光谱中的用途本发明公开了一种倾斜面高度和形状测量系统。根据本发明，分光棱镜或衍射光栅进行照明光束的波长分离成向所述被测试样的使用CCD相机(线阵CCD照相机)的光谱光镜的高度和形状物体通过所确定的位置信息通过颜色信息中的分辨率光学非接触式三维形状测量系统...[]号进行镀膜。 |
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