| 一种受激辐射损耗显微镜系统及其控制方法 |
| CN201810523377.3 2018-5-28 发明申请 |
| 2018-11-6 |
| 本发明提供了一种受激辐射损耗显微镜系统及其控制方法，其中，第一纳秒脉冲激发光光源所述系统包括第一纳秒脉冲激发光光源、均匀空间光束调制部件、第二纳秒脉冲消激发光光源、网格状空间光束调制部件、二向色镜组件、显微镜镜体、微纳米平移台、镜头组件、图像采集相机、同步器以及计算机。本申请提供的受激辐射损耗显微镜系统及其控制方法，能够在提高稳定性和成像速度的同时，减少系统的成本。 |
微信公众号