| 阵列探测器光谱仪光谱的采集、暗校正和报告方法 |
| US15588005 2017-5-5 发明申请 |
| 2017-8-24 |
| 描述了用于分光计暗校正的方法和系统，其实现了更稳定的基线，特别是朝向强度校正放大暗减法的任何非零结果的边缘，并且由于相机窗框的温度变化引起的暗电流的变化通常更加显著。 由此产生的基线的诱导曲率使得在这些区域中难以定量。 本发明的使用可以提供用于识别系统故障状态的度量，诸如相机真空密封件的丢失、温度稳定中的漂移和光泄漏。 在本发明的系统方面，处理器从分光计中的光检测器接收信号，并执行软件程序来计算光谱响应、求和或平均结果，以及执行执行所公开的方法所必需的其它操作。 在大多数优选实施例中，从样品接收的光信号用于拉曼分析。 |
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