| 一种宽禁带半导体量子点荧光的二阶相关性测量系统 |
| CN201710324765.4 2017-5-10 发明申请 |
| 2017-8-18 |
| 本发明针对宽禁带半导体量子点难以在光学显微镜下辨识并测量其荧光的二阶相关性的问题，提出了联合共聚焦显微镜，电动平移载物台，光谱仪及单光子探测器，构建成一套方便、易实施的测量宽禁带半导体量子点荧光的二阶相关性的系统，可以实现二阶相关性的二维平面内扫描测量，能够一次性测量整个衬底上所有量子点各自的荧光二阶相关性结果，有效解决量子点在光学显微镜下难以寻找和定位的问题。 |
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